ඛණ්ඩාංක මිනුම් යන්ත්‍ර (CMM) යන්ත්‍රෝපකරණ, ඉලෙක්ට්‍රොනික උපකරණ, උපකරණ සහ ප්ලාස්ටික් වැනි කර්මාන්තවල බහුලව භාවිතා වේ. CMM යනු මාන දත්ත මැනීම සහ ලබා ගැනීම සඳහා ඵලදායී ක්‍රමයකි, මන්ද ඒවාට බහු මතුපිට මිනුම් මෙවලම් සහ මිල අධික සංයෝජන මිනුම් ප්‍රතිස්ථාපනය කළ හැකි අතර, සංකීර්ණ මිනුම් කාර්යයන් සඳහා අවශ්‍ය කාලය පැය සිට මිනිත්තු දක්වා අඩු කරයි - වෙනත් උපකරණ සමඟ අත් කරගත නොහැකි ජයග්‍රහණයකි.
සම්බන්ධීකරණ මිනුම් යන්ත්‍රවලට බලපාන සාධක: CMM මිනුම්වල සහජීවනයට බලපාන සාධක. ජාතික ප්‍රමිතියේ දී, CMM සඳහා සහජීවන ඉවසීමේ කලාපය අර්ථ දක්වා ඇත්තේ CMM හි දත්ත අක්ෂය සමඟ t හි විෂ්කම්භය ඉවසීමක් සහ සහජීවනය සහිත සිලින්ඩරාකාර මතුපිටක් තුළ ඇති ප්‍රදේශය ලෙස ය. එයට පාලන මූලද්‍රව්‍ය තුනක් ඇත: 1) අක්ෂයේ සිට අක්ෂය දක්වා; 2) අක්ෂයේ සිට පොදු අක්ෂය දක්වා; සහ 3) මධ්‍යයේ සිට මධ්‍යයට. 2.5-මාන මිනුම්වල සහජීවනයට බලපාන සාධක: 2.5-මාන මිනුම්වල සහජීවනයට බලපාන මූලික සාධක වන්නේ මනින ලද මූලද්‍රව්‍යයේ සහ දත්ත මූලද්‍රව්‍යයේ මධ්‍ය පිහිටීම සහ අක්ෂ දිශාවයි, විශේෂයෙන් අක්ෂ දිශාවයි. උදාහරණයක් ලෙස, දත්ත සිලින්ඩරයක හරස්කඩ කව දෙකක් මනින විට, සම්බන්ධක රේඛාව දත්ත අක්ෂය ලෙස භාවිතා කරයි.
මනින ලද සිලින්ඩරය මත හරස්කඩ කව දෙකක් ද මනිනු ලැබේ, සරල රේඛාවක් ඉදිකරනු ලැබේ, ඉන්පසු සහජීවනය ගණනය කරනු ලැබේ. දත්තයේ බර පෘෂ්ඨ දෙක අතර දුර 10 mm වන අතර දත්ත බර පෘෂ්ඨ සහ මනින ලද සිලින්ඩරයේ හරස්කඩ අතර දුර 100 mm බව උපකල්පනය කළහොත්, දත්තයේ දෙවන හරස්කඩ කවයේ මධ්‍ය ස්ථානයේ හරස්කඩ කවයේ කේන්ද්‍රය සමඟ 5um මිනුම් දෝෂයක් තිබේ නම්, මනින ලද සිලින්ඩරයේ හරස්කඩ දක්වා දිගු කළ විට දත්ත අක්ෂය දැනටමත් 50um දුරින් පවතී (5umx100:10). මෙම අවස්ථාවේදී, මනින ලද සිලින්ඩරය දත්ත සමඟ සහජීවනයක් තිබුණද, ද්විමාන සහ 2.5-මාන මිනුම්වල ප්‍රතිඵලවල තවමත් 100um දෝෂයක් ඇත (එකම අංශක ඉවසීමේ අගය විෂ්කම්භය වන අතර 50um අරය වේ).
පළ කිරීමේ කාලය: සැප්තැම්බර්-02-2025